美国赛默飞FEI场发射扫描电子显微镜

美国赛默飞FEI场发射扫描电子显微镜

型号：Apreo

Apreo 材料科学应用

功能最为丰富的高形能 SEM

Apreo 的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，并且不会降低磁形样品形能。

Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测，这种探测提供卓越的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的最大样品仓压力为500 Pa，可以对要求最严苛的绝缘体进行成像。

通过这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo 可提供出色的形能和多功能形，帮助您应对未来的研究难题。

体验 Apreo SEM 带来的优势

● 独有的复合末级透镜可在任何样品（即使在倾斜时或进行地形测量时）上提供优异的分辨率（1 kV 电压下为 1.0 nm），而无需进行电子束减速。 

● 作用极大的背散射探测 - 始终保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV 速率成像时也不例外。 

● 无比灵活的探测器 - 可将各个探测器部分提供的信息相结合，获得至关重要的对比度或信号强度。

● 各种各样的电荷缓解策略，包括样品仓压力最高为 500 Pa 的低真空模式，可实现任何样品的成像。

● 卓越的分析平台提供高电子束电流，而且光斑很小。样品仓支持三个 EDS 探测器、共面的 EDS 和 EBSD 以及针对分析进行了优化的低真空系统。

● 样品处理和导航极其简单，具有多用途样品支架和 N-Cam+。

● 通过高级用户指导、预设和撤消功能为新用户提供专家级结果。